模数转换器(ADC)是数字电子系统中重要组成部分,用于捕获外部世界的模拟信号,如声音、图像、温度、压力等,并将它们转化为数字信号01, 以供计算机进行处理分析。ADC芯片在出厂交付之前,需要对产品的性能做各种测试,尤其对于要求可靠性和安全性较高的行业,诸如航空航天、医用医疗、汽车电子等应用领域,都需要对ADC芯片做严苛的性能测试验证。
ADC测试参数主要包括静态参数和动态参数。静态参数主要表示ADC实际测量的输出曲线和理想输出曲线的关系,而动态参数着重分析ADC的频谱特性。
静态测试常见参数
- DNL:对于给定的输入范围,ADC输出之间的步进量误差,用于衡量实际输出码和理想输出码的差距。
- INL:积分非线性,整个输入范围内的非线性误差,即真实与理想情况下码宽误差服务器托管网的累计。
- Offset:积分非线性,整个输入范围内的非线性误差,即真实与理想情况下码宽误差的累计。
- Gain:增益误差。输出全是1时,对应的实际电压和理想电压之差。
- TUE:在考虑所有误差来源的情况下,评估转换器的整体性能。
- Mis服务器托管网sing code:输出范围中未被转换器所表示的编码值。
图1. ADC静态参数测试
动态测试常见参数
- THD:总谐波失真,转换过程中非线性引起的谐波失真。
- SNR:信噪比,输出信号与内部噪声之比。
- SFDR:无杂散动态范围,就是基频信号不存在额外杂散分量的最大范围。
- ENOB:实际有效位数。在噪声和失真存在的情况下,ADC实际可达到的位数。
图2. ADC动态参数测试
德思特ADC测试解决方案
图3. 德思特ADC测试台架ATX7006A
目前针对ADC芯片的性能测试,表现出朝着高采样率、高精度等性能参数测试的发展趋势。
德思特提供完整的ADC测试解决方案,能够测试8-24位的ADC芯片,功能测试涵盖几乎所有典型的性能参数测试(包括静态参数测试和动态参数测试)。我们采用紧凑型模块化集成的ATE测试硬件台架,配套专用的测试分析软件ATView和WaveAnalyzer,给您提供ADC测试交钥匙解决方案。
德思特ADC测试平台特点
✓完全集成的ADC测试解决方案
✓采样频率高达200/400 MHz
✓无与伦比的信号发生质量和精度
✓支持所有线性/动态测试
✓灵活和通用的数字IO
✓扩展分析软件ATViewWaveAnalyzer
✓静态、直方图测试
✓易于用户自定义的测试脚本
图4. 德思特ADC测试系统架构
图5. 德思特ADC测试配套软件ATView 7006
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